SFH 530
• Das Temperaturverhalten zeigt großen Einfluß
auf das Ausgangssignal des Sensors. Der
ASIC ist so ausgelegt, daß er bei
Raumtemperatur 0 … – 1 mV Offset und einen
negativen Temperaturkoeffizienten aufweist.
Auch auftretende Leckströme würden das
Nutzsignal nur verringern (der Leckstrom ist
stets subtraktiv bezüglich des Ausgangssig-
nals).
• The temperature behavior shows the marked
effect on the sensor’s output signal. The ASIC
is so designed that it exhibits a 0 to – 1 mV
offset and a negative temperature coefficient at
room temperature. Even any leakage currents
present would only reduce the wanted signal
(the leakage current is always subtractive with
respect to the output signal).
2000-12-18
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