SFH464E7800 データシートの表示（PDF） - Infineon Technologies
部品番号
コンポーネント説明
メーカー
SFH464E7800 Datasheet PDF : 6 Pages
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SFH 464
Strahlstärke Ie in Achsrichtung1)
gemessen bei einem Raumwinkel Ω = 0.01 sr
Radiant Intensity Ie in Axial Direction1)
at a solid angle of Ω = 0.01 sr
Bezeichnung
Parameter
Strahlstärke1)
Radiant intensity1)
IF = 50 mA, tp = 20 ms
Symbol
Ie
Werte
Values
≥1
Einheit
Unit
mW/sr
1) Die Messung der Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der
Lochblende: 1.1 mm; Abstand Lochblende zu Gehäuserückseite: 4 mm). Dadurch wird sichergestellt, daβ bei der
Strahlstärkemessung nur diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird, die direkt von der Chipoberfläche
austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen nicht bewertet.
Diese Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der Chipoberfläche über Zusatzoptiken störend (z.B.
Lichtschranken groβer Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen ebenfalls durch
Blenden unterdrückt. Durch dieses, der Anwendung entsprechende Meβverfahren ergibt sich für den Anwender
eine besser verwertbare Gröβe. Diese Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den Eintrag „E 7800“, der
an die Typenbezeichnung angehängt ist.
1) An aperture is used in front of the component for measurement of the radiant intensity and the half angle (diameter
of the aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back side: 4 mm). This ensures that solely the radiation in axial
direction emitting directly from the chip surface will be evaluated during measurement of the radiant intensity.
Radiation reflected by the bottom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair the projection
of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the application of the
component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring procedure
corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted by “E 7800”
added to the type designation.
Radiation Characteristics
Irel = f (ϕ)1)
40
30
20
10
0
ϕ
1.0
50
0.8
OHR01457
60
0.6
70
0.4
80
0.2
90
0
100
1.0 0.8 0.6
0.4
0
20 40 60 80 100 120
2001-02-22
4
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