TB6674FAG データシートの表示（PDF） - Toshiba

部品番号

コンポーネント説明

メーカー

TB6674FAG

BiCD Integrated Circuit Silicon Monolithic

Toshiba 

Test Circuit 1. ICC1, ICC2, ICC3, IIN A, IIN B, and IPS

TB6674PG/FG/FAG

Item

ICC1

ICC2

ICC3

IIN A

IIN B

IPS

SW1

b

b

b

a

―

―

SW2

b

b

b

―

a

―

SW3

a

b

―

―

―

a

SW4

a

a

b

a

a

a

/ TB6674PG/FAG TB6674FG

All terminals of INA, INB, and PS should output low or be connected to the ground terminal in measuring ICC3.

10

2010-08-25

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