TB6674FAG データシートの表示（PDF） - Toshiba

部品番号

コンポーネント説明

メーカー

TB6674FAG

BiCD Integrated Circuit Silicon Monolithic

Toshiba 

Test Circuit 2. Ron 1H1, Ron 1H2, Ron L2, and Ron L3

TB6674PG/FG/FAG

*: Adjust RL to correspond to IL.

Item

VSAT 1H1

VSAT 1H2

VSAT L2

VSAT L3

SW1

a

b

―

―

a

b

―

―

a

b

―

―

a

b

―

―

SW2

―

―

a

b

―

―

a

b

―

―

a

b

―

―

a

b

SW3

b

b

―

b

SW4

a

b

d

c

a

b

d

c

b

a

c

d

b

a

c

d

SW5

a

IL (mA)

100

a

400

b

100

b

400

11

2010-08-25

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